Il-wejfer tas-silikon monokristallin tat-tip N-M2 għandu disinn kważi-kwadru 156.75 × 156.75 mm b'kantunieri tond, jibbilanċja l-kompatibilità ma 'tqassim tal-moduli standard u qbid tad-dawl ottimizzat. Prodott bl-użu tal-metodu Cz u d-doping tal-fosfru, joffri purità ta 'materjal għoli,<100>orjentazzjoni, u densità baxxa ta 'diżlokazzjoni (inqas minn jew daqs 500 cm⁻²). Bil-konduttività tat-tip N, firxa wiesgħa ta 'reżistività (0.2-12 ω · cm), u ħajja għolja ta' trasportatur ta 'minoranza għolja (akbar minn jew daqs 1000 µs), hija tappoġġja teknoloġiji ta' ċelloli b'effiċjenza għolja bħal Topcon u HJT. Il-wejfer M2 jibqa 'format ippruvat u affidabbli għal prestazzjoni stabbli f'applikazzjonijiet PV mainstream.
1. Propjetajiet tal-materjal
|
Proprjetà |
Speċifikazzjoni |
Metodu ta 'spezzjoni |
|
Metodu ta 'tkabbir |
Cz |
|
|
Kristallinità |
Monokristallin |
Tekniki tal-inċiżjoni preferenzjali(ASTM F47-88) |
|
Tip ta 'konduttività |
Tip n |
Napson EC-80TPN |
|
Dopant |
Fosfru |
- |
|
Konċentrazzjoni ta 'ossiġnu [OI] |
Inqas minn jew daqs8e +17 at / cm3 |
FTIR (ASTM F121-83) |
|
Konċentrazzjoni tal-Karbonju [CS] |
Inqas minn jew daqs5e +16 at / cm3 |
FTIR (ASTM F123-91) |
|
Densità tal-fossa tal-inċiżjoni (densità tad-diżlokazzjoni) |
Inqas minn jew daqs500 cm-2 |
Tekniki tal-inċiżjoni preferenzjali(ASTM F47-88) |
|
Orjentazzjoni tal-wiċċ |
<100>± 3 grad |
Metodu ta 'diffrazzjoni tar-raġġi X (ASTM F26-1987) |
|
Orjentazzjoni tal-ġnub tal-psewdo kwadru |
<010>,<001>± 3 grad |
Metodu ta 'diffrazzjoni tar-raġġi X (ASTM F26-1987) |
2. Propjetajiet elettriċi
|
Proprjetà |
Speċifikazzjoni |
Metodu ta 'spezzjoni |
|
Reżistività |
0.2-2.0 ω.cm 0.5-3.5 ω.cm
1.0-7.0 ω.cm
1.5-12 ω.cm
|
4-sonda tar-reżistività
kejl
|
|
MCLT (Lifetime Carrier Minority) |
Akbar minn jew daqs 1000 µs (reżistività ＞ 1.0 ω.cm) Akbar minn jew daqs 500 µs (reżistività ＜ 1.0 ω.cm
|
Sinton BCT-400 Temporanju
(bil-livell ta 'injezzjoni: 5E14 cm-3)
|
3.Geometry
|
Proprjetà |
Speċifikazzjoni |
Metodu ta 'spezzjoni |
|
Ġeometrija |
Quasi Square
|
Vernier Caliper
|
|
Dijametru
|
210 ± 0.25 mm
|
Vernier Caliper |
|
Ċatt għal ċatt
|
156.75 ± 0.25 mm
|
Vernier Caliper
|
|
Tul tal-kantuniera
|
8.5 ± 0.5mm
|
Pjazza / ħakkiem tas-sedil wiesa '
|
|
Angularità
|
90 grad ± 0.2 grad |
Angolu ħakkiem
|
|
Forma tal-kantuniera
|
Forma tonda
|
Spezzjoni viżwali
|
|
Perpendicularit
|
Inqas minn jew daqs 0.8 mm
|
|
|
TTV (varjazzjoni totali tal-ħxuna) |
Inqas minn jew daqs 27 µm |
Sistema ta 'spezzjoni tal-wejfer |
4.Propjetajiet tal-wiċċ
|
Proprjetà |
Speċifikazzjoni |
Metodu ta 'spezzjoni |
|
Qualit tal-wiċċ
|
Stain, żejt, scratch, crack, fossa, bump,
Pinhole u difett twin mhumiex
permess
|
Spezzjoni viżwali
|
|
Ċippa
|
Ċippa tal-wiċċ mhix permessa;
ARRIS: Iċ-ċipep mhumiex konsekuttivi:
Inqas minn 10 fuq l-arris, dia inqas minn jew daqs 0.3mm;
|
Ħakkiem
|
|
Wiċċ imqaxxar
|
Wiċċ tal-pjan: RA inqas minn jew daqs 0.6um;
Wiċċ cambered: ra inqas minn jew daqs 1.0um
|
Meter tal-ħruxija tal-wiċċ
|
It-tags Popolari: Speċifikazzjoni tal-wejfer tas-silikon monokristallina tat-tip N, Ċina, fornituri, manifatturi, fabbrika, magħmula fiċ-Ċina
