Għal wejfers mono-Si, kwadru sħiħ ta '158.75mm se jsir l-iktar disinn adottat sat-tieni nofs tas-sena. Ftit manifatturi biss jużaw wejfers li huma akbar minn dan. LG u Hanwha Q Cells, pereżempju, jużaw wejfers M4 (161.7mm), filwaqt li Longi qed jippromwovi wejfers 166mm.
Il-Wafers Mono Square Full state-of-art immassimizzaw l-espożizzjoni għad-dawl għall-istess livell ta ’multi wejfer billi espandew il-miżura kwadra. Il-wejfers huma dejjem kompletament kwadri sabiex jaqblu mal-modulu PV bl-aħjar mod.
1 Propjetajiet materjali
Proprjetà | Speċifikazzjoni | Metodu ta 'Spezzjoni |
Metodu ta 'tkabbir | CZ | |
Kristalinità | Monokristallin | Tekniki ta 'Inċiżjoni Preferenzjali（ASTM F47-88） |
Tip ta 'konduttività | Tip N | Napson EC-80TPN |
Dopant | Fosfru | - |
Konċentrazzjoni ta 'ossiġnu [Oi] | ≦8E+17 f '/ cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Konċentrazzjoni tal-karbonju [Cs] | ≦5E+16 f '/ cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Densità tal-fossa tal-inċiżjoni (densità tad-dislokazzjoni) | ≦500 ċm-3 | Tekniki ta 'Inċiżjoni Preferenzjali（ASTM F47-88） |
Orjentazzjoni tal-wiċċ | & lt; 100> ± 3 ° | Metodu ta 'Difrazzjoni tar-Raġġi X (ASTM F26-1987) |
Orjentazzjoni ta 'psewdo naħat kwadri | & lt; 010> ;,< 001=""> ± 3 ° | Metodu ta 'Difrazzjoni tar-Raġġi X (ASTM F26-1987) |
2 Propjetajiet elettriċi
Proprjetà | Speċifikazzjoni | Metodu ta 'Spezzjoni |
Reżistività | 0.3-2.1 Ω.cm 1.0-7.0 Ω.cm | Sistema ta 'spezzjoni tal-wejfer |
MCLT (ħajja ta 'trasportatur minoritarju) | ≧ 1000 μs (Reżistività0.3-2.1 Ω.cm) | Sinton temporanju |
3 Ġeometrija
Proprjetà | Speċifikazzjoni | Metodu ta 'Spezzjoni |
Ġeometrija | Pjazza sħiħa | |
Wafer Tul tal-ġenb | 158.75 ± 0.25 mm | sistema ta 'spezzjoni tal-wejfer |
Dijametru tal-Wafer | φ223 ± 0.25 mm | sistema ta 'spezzjoni tal-wejfer |
Angolu bejn il-ġnub biswit | 90° ± 0.2° | sistema ta 'spezzjoni tal-wejfer |
Ħxuna | 180 ﹢ 20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm | sistema ta 'spezzjoni tal-wejfer |
TTV (Varjazzjoni totali tal-ħxuna) | ≤ 27 µm | sistema ta 'spezzjoni tal-wejfer |
4 Propjetajiet tal-wiċċ
Proprjetà | Speċifikazzjoni | Metodu ta 'Spezzjoni |
Metodu ta 'qtugħ | DW | -- |
Kwalità tal-wiċċ | kif maqtugħ u mnaddaf, l-ebda kontaminazzjoni viżibbli, (żejt jew griż, marki tas-swaba ', tbajja' ta 'sapun, tbajja' ta 'demel likwidu, tbajja epossi / kolla mhumiex permessi) | sistema ta 'spezzjoni tal-wejfer |
Rat marki / passi | ≤ 15µm | sistema ta 'spezzjoni tal-wejfer |
Pruwa | ≤ 40 µm | sistema ta 'spezzjoni tal-wejfer |
Medd | ≤ 40 µm | sistema ta 'spezzjoni tal-wejfer |
Ċippa | fond ≤0.3mm u tul ≤ 0.5mm Max 2 / pcs; l-ebda V-chip | Għajnejn mikxufa jew sistema ta 'spezzjoni tal-wejfer |
Mikro xquq / toqob | Mhux permess | sistema ta 'spezzjoni tal-wejfer |
It-tags Popolari: wejfer solari monokristallin tat-tip 158.75mm, iċ-Ċina, fornituri, manifatturi, fabbrika, magħmula fiċ-Ċina
