Introduction Introduzzjoni tal-prodott】
PROPRJETAJIET MATERJALI
Parametru | Karatteristika | Metodu ta 'Kontroll ASTM |
Tip / Dopant | P, Boron N, Fosfru N, Antimonju N, Arseniku | F42 |
Orjentazzjonijiet | <100>, <111> inaqqas l-orjentazzjonijiet għal kull speċifikazzjoni tal-klijent | F26 |
Kontenut ta 'Ossiġnu | 10 19 ppmA Tolleranzi doganali għal kull speċifikazzjoni tal-klijent | F121 |
Kontenut ta 'Karbonju | <0.6> | F123 |
Meded ta 'reżistenza -P, Boron-N, Fosfru-N, Antimonju-N, Arseniku | 0.001 - 50 ohm · ċm | F84 |
PROPRJETAJIET MEKKANIĊI
Parametru | Prim | Monitor / Test A | Test | Metodu ASTM |
Dijametru | 150 ± 0.2 mm | 150 ± 0.2 mm | 150 ± 0.5 mm | F613 |
Ħxuna | 675 ± 20 µm (standard) | 675 ± 25 µm (standard) 450 ± 25 µm 625 ± 25 µm 1000 ± 25 µm 1300 ± 25 µm 1500 ± 25 µm | 675 ± 50 µm (standard) | F533 |
TTV | <5> | <10> | <15> | F657 |
Pruwa | <30> | <30> | <50> | F657 |
Kebbeb | <30> | <30> | <50> | F657 |
Tunding tat-tarf | SEMI-STD | F928 | ||
Immarkar | SEMI-Flat Primarja biss, SEMI-STD Flats Jeida Flat, talja | F26, F671 | ||
KWALITÀ WIĊĊ
Parametru | Prim | Monitor / Test A | Test | Metodu ASTM |
Kriterji ta 'Quddiem | ||||
Kundizzjoni tal-wiċċ | Mekkanika Kimika illustrata | Mekkanika Kimika illustrata | Mekkanika Kimika illustrata | F523 |
Tnixxif fil-wiċċ | <2 a=""> | <2 a=""> | <2 a=""> | |
Kontaminazzjoni, Partiċelli @> 0.3 µm | = 20 | = 20 | = 30 | F523 |
Ċpar, Ħofor, Qoxra tal-larinġ | Xejn | Xejn | Xejn | F523 |
Marki tas-serrieq, strizzjonijiet | Xejn | Xejn | Xejn | F523 |
Kriterji ta 'wara | ||||
Xquq, crowsfeet, serrieq, tbajja | Xejn | Xejn | Xejn | F523 |
Kundizzjoni tal-wiċċ | Kawstika inċiżi | F523 | ||
Description Deskrizzjoni tal-prodott 】
Perfetta għall-applikazzjonijiet tal-mikrofluwidi. Għal applikazzjonijiet mikroelettroniċi jew MEMS, jekk jogħġbok ikkuntattjana għal speċifikazzjonijiet dettaljati.
Apparat semikonduttur ikompli jonqos, qed isir dejjem aktar importanti għall-wejfers li jkollhom kwalità għolja tal-wiċċ kemm fuq in-naħa ta 'quddiem kif ukoll ta' wara. Bħalissa dawn il-wejfers huma l-aktar komuni f'sistemi mikroelettromekkaniċi (MEMS), twaħħil tal-wejfers, fabbrikazzjoni ta 'silikon fuq iżolatur (SOI), u applikazzjonijiet f'rekwiżiti ta' ċatt strett. Il-mikroelettronika tirrikonoxxi l-evoluzzjoni tal-industrija tas-semikondutturi u hija impenjata li ssib soluzzjonijiet fit-tul għall-ħtiġijiet kollha tal-klijenti.
Stokk kbir ta 'wejfers illustrati fuq żewġ naħat fid-dijametri kollha tal-wejfer li jvarjaw minn 100mm sa 300mm. Jekk l-ispeċifikazzjoni tiegħek mhijiex disponibbli fl-inventarju tagħna, aħna waqqafna relazzjonijiet fit-tul ma 'bosta bejjiegħa li huma kapaċi li jimmanifatturaw wejfers tad-dwana biex jaqblu ma' kwalunkwe speċifikazzjoni unika. Wafers illustrati fuq żewġ naħat huma disponibbli fis-silikon, ħġieġ u materjali oħra użati komunement fl-industrija tas-semikondutturi.
Tħaffir u illustrar personalizzati huwa wkoll disponibbli skond il-ħtiġijiet tiegħek. Nitolbok li tħossok liberu li tikkuntattjana.
Features Karatteristiċi tal-prodott 】
· Tip ta '6 "P / N, wejfer tas-silikon illustrat (25 biċċa)
· Orjentazzjoni: 150
· Reżistenza: 0.1 - 40 ohm · cm (Jista 'jvarja minn lott għal lott)
· Ħxuna: 675 +/- 20um
· Prim / Monitor / Grad tat-Test
It-tags Popolari: Wejfer ta '6 pulzieri (150mm), iċ-Ċina, fornituri, manifatturi, fabbrika, magħmula fiċ-Ċina
